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形態観察分析

試料表面・断面の情報を目的に添った分析装置を適確に選定し、最適な方法により収集してお客様のご満足行く結果をご提供いたします。
ミクロ・マクロ観察、元素分析、面分析、構造解析等、最新の装置と高い技術力でお客様のニーズにお応えします。

主な分析装置

  • 走査電子顕微鏡(SEM)
  • 電界放射型走査電子顕微鏡観察(FE-SEM)
  • 走査電子顕微鏡-X線分析(EPMA、FE-SEM、SEM)
  • 透過電子顕微鏡観察(TEM)
  • 集束イオンビーム加工(FIB)
  • X線回折分析計(XRD)
  • 蛍光X線分析(XRF)

主な分析内容

  • 形態観察
  • 表面分析
  • 元素分析
  • 構造解析
お問合せは
こちらから
営業時間: 平日8:40〜17:20
株式会社 電力テクノシステムズ
〒215-0004 神奈川県川崎市麻生区万福寺1-1-1
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